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Titlebook: Reliability of Electronic Components; A Practical Guide to Titu I. Băjenescu,Marius I. Bâzu Book 1999 Springer-Verlag Berlin Heidelberg 199

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楼主: aggression
发表于 2025-3-26 21:53:50 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-27 04:32:11 | 显示全部楼层
Titu I. Băjenescu M.Sc.,Marius I. Bâzuolitik, in den Medien und Religionen. Die Geschichte der Erziehung zeigt jedoch, dass Erziehung Misserfolge und Fehlentwicklungen produzieren kann: statt Selbstbestimmung erzeugt sie Gehorsam, statt Mündigkeit Unterdrü-ckung, statt Zuwendung und Empathie körperliche und seelische Gewalttätigkeiten,
发表于 2025-3-27 05:35:01 | 显示全部楼层
Titu I. Băjenescu M.Sc.,Marius I. Băzuzeipräsidiums ist die Zahl der gewerbsmäßigen Kurpfuscher Berlins vom Jahre 1879–1903 um 3518% gestiegen, indes die Einwohnerzahl in der gleichen Zeit um 120% zunahm; im Jahre 1878 gab es 28, im Jahre 1903 aber 1013 Kurpfuscher. Eine Zählung in Preußen im Jahre 1897 ergab 2404 Kurpfuscher; im Jahre
发表于 2025-3-27 11:16:17 | 显示全部楼层
Titu I. Băjenescu M.Sc.,Marius I. Bâzueriellen Mitteln versehen. Mit diesen wiederum schuf man sich neuen Einfluß auf die Presse, auf abhängige Kreise, man schuf vor allem auch eine ausgedehnte Organisation, die früher für das „ehrlose“ Gewerbe unmöglich gewesen wäre. Die Organisation wirkte dann wiederum machtsteigernd, und ihre auf Ma
发表于 2025-3-27 14:26:41 | 显示全部楼层
t. Auch bei der Untersuchung der dielektrischen Funktionen freier Ladungsträger in einem polarisierbaren Wirtsgitter haben wir eine frequenzunabhängige Untergrundpolarisation ε. angenommen. Das bedeutet, daß wir uns in Frequenzbereichen aufhielten, die genügend unter- oder oberhalb der Resonanzfrequ
发表于 2025-3-27 18:34:27 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-27 22:17:32 | 显示全部楼层
Reliability of silicon power transistors,The explosive development of the semiconductor technology imposes greater demands on the quality and reliability of the components. The problem of the failure rate during the life of a device or system is more and more important and the failure analysis helps to the improvement of the product quality.
发表于 2025-3-28 02:30:30 | 显示全部楼层
Noise and reliability,Much work has been carried out in the past to study the various types of (low-frequency excess) noise sources as they commonly occur in silicon planar transistors used in monolithic integrated circuits. Some examples of such noise sources are presented in the following.
发表于 2025-3-28 07:14:36 | 显示全部楼层
Titu I. Băjenescu,Marius I. BâzuApplication-oriented professional book.It provides engineers and students with enough background to design and analyse reliaility procedures.It also covers all the manufacturing aspects of electronic
发表于 2025-3-28 13:23:15 | 显示全部楼层
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