Titlebook: Entwurf selbsttestbarer Schaltungen; Albrecht P. Ströle Book 1998 B. G. Teubner Verlagsgesellschaft Leipzig 1998 Einheit.Entwurf.Fehler.Fe

Genistein

Synthese selbsttestbarer Schaltungen, der Schaltung durch Ergänzungen und Modifikationen geschehen. Günstiger ist es aber, bereits beim Entwurf die Anforderungen des Tests zu berücksichtigen (“synthesis for testability”). Dies erlaubt eine globalere Optimierung. Die Testbarkeit hängt nämlich mit der Schaltungsstruktur zusammen, und da

无目标

,Schluß,sgelieferten Chips fehlerhaft sein durften [McBu88], wird in den 90er Jahren ein Wert von einzelnen ppm angestrebt. Da der direkte Weg über einen vollständig defektfreien Fertigungsprozeß mit der verwendeten Halbleitertechnologie nicht gangbar ist, bleibt nur der indirekte Weg, um die hohen Qualität

JAUNT

1615-4584 ei ist. Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltu

depreciate

牵索

Synthese selbsttestbarer Schaltungen,haften gewählt werden. Bei der High-Level-Synthese und bei der Logiksynthese kommt dann zu den Optimierungszielen Fläche und Zeit die Testbarkeit hinzu. Außerdem sind bei Fläche und Zeit auch die Selbsttesteinrichtungen einzubeziehen.

cochlea

非实体

Latency

残暴

Defekte und Fehler,etzliste und im Verhalten der Schaltung werden als . bezeichnet. Jedem Fehler liegt mindestens ein Defekt zugrunde. Aber nicht jeder Defekt verursacht einen Fehler, denn Defekte in Bereichen, wo keine Layoutobjekte der Schaltung liegen, sind bedeutungslos.

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