Titlebook: Entwurf selbsttestbarer Schaltungen; Albrecht P. Ströle Book 1998 B. G. Teubner Verlagsgesellschaft Leipzig 1998 Einheit.Entwurf.Fehler.Fe

MAIZE

Pathophysiologie dementieller Erkrankungenr fehlerfreie Produkte ausgeliefert werden. Die unterschiedlichen Schaltungsstrukturen, Fertigungstechnologien, Stückzahlen und Anforderungen an die Produktqualität haben zur Entwicklung einer Vielzahl unterschiedlicher Vorgehensweisen geführt. Zu einer Teststrategie gehören

freight

amnesia

https://doi.org/10.1007/978-3-663-09140-0 der Schaltung durch Ergänzungen und Modifikationen geschehen. Günstiger ist es aber, bereits beim Entwurf die Anforderungen des Tests zu berücksichtigen (“synthesis for testability”). Dies erlaubt eine globalere Optimierung. Die Testbarkeit hängt nämlich mit der Schaltungsstruktur zusammen, und da

委托

https://doi.org/10.1007/978-3-658-36799-2sgelieferten Chips fehlerhaft sein durften [McBu88], wird in den 90er Jahren ein Wert von einzelnen ppm angestrebt. Da der direkte Weg über einen vollständig defektfreien Fertigungsprozeß mit der verwendeten Halbleitertechnologie nicht gangbar ist, bleibt nur der indirekte Weg, um die hohen Qualität

圆锥

Carcinogenesis

Entwurf selbsttestbarer Schaltungen978-3-322-85164-2Series ISSN 1615-4584

Implicit

Einleitung,n 200 MHz und höher betrieben. Die Planungen sehen vor, die minimalen Abmessungen der Strukturen auf der Chipoberfläche von jetzt ungefähr 0,35 μm auf ca. 0,10 μm im Jahr 2007 zu verkleinern. Dadurch werden Geschwindigkeit und Komplexität der Schaltungen auf einem Chip weiter gesteigert.

联想记忆

Defekte und Fehler,r Test soll gerade die häufigsten Fehler zuverlässig erfassen. Fehlerhafte Chips entstehen, wenn durch Störungen im Fertigungsprozeß nicht die gewünschten Strukturen auf der Chipoberfläche erzeugt werden. Solche Abweichungen werden . genannt. Die von ihnen verursachten Änderungen in der Transistor-N

Generalize

强有力

,Methoden und Hardware-Strukturen für Mustererzeugung und Kompaktierung,em Kompaktierer, die Folgen von Testantworten zu einem einzigen Datenwort verarbeiten. Diese Testhilfsmittel sollen sich mit geringem Hardware-Aufwand implementieren lassen, den Normalbetrieb nicht negativ beeinflussen und im Testbetrieb eine hohe Fehlererfassung ermöglichen.