| 书目名称 | Entwurf selbsttestbarer Schaltungen | | 编辑 | Albrecht P. Ströle | | 视频video | | | 丛书名称 | Teubner Texte zur Informatik | | 图书封面 |  | | 描述 | Die heutige Halbleitertechnologie kann nicht garantieren, daß alle gefertigten Chips korrekt funktionieren, selbst wenn der Entwurf fehlerfrei ist. Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren.Für den Selbsttest werden alle notwendigen Hilfsmittel wie Testmustergeneratoren und Kompaktierer für die Testantworten in die Schaltung eingebaut, so daß der Chip sich autonom, ohne teure externe Geräte testen kann. Der Testablauf wird dann so geplant, daß viele Teilschaltungen gleichzeitig bearbeitet werden und der gesamte Chiptest nur kurze Zeit benötigt. | | 出版日期 | Book 1998 | | 关键词 | Einheit; Entwurf; Fehler; Fertigung; Forschung; Halbleiterfertigung; Hardware-Strukturen; Methoden; Musterer | | 版次 | 1 | | doi | https://doi.org/10.1007/978-3-322-85164-2 | | isbn_softcover | 978-3-8154-2314-1 | | isbn_ebook | 978-3-322-85164-2Series ISSN 1615-4584 | | issn_series | 1615-4584 | | copyright | B. G. Teubner Verlagsgesellschaft Leipzig 1998 |
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发表于 2025-3-21 19:32:46
