SCIE期刊JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS 2024/2025影响因子:1.142 (J ELECTRON TEST) (0923-8174). (ENGINEE

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Submitted on: 25 July 2015. Revised on: 29 October 2015. Accepted on: 01 December 2015. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS

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