找回密码
 To register

QQ登录

只需一步,快速开始

扫一扫,访问微社区

Titlebook: Raster-Elektronenmikroskopie; Ludwig Reimer,Gerhard Pfefferkorn Book 1977Latest edition Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1977 Elektronenm

[复制链接]
楼主: Suture
发表于 2025-3-25 07:10:12 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-25 11:22:04 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-25 14:27:43 | 显示全部楼层
,Abbildung mit Sekundär-, Rückstreuelektronen und Probenströmen,1b) eine matte Oberfläche an, welche mit einer Richtcharakteristik proportional cos . abstrahlt, so wird in Beobachtungsrichtung eine Leuchtdichte proportional sin a beobachtet. Nach Abb. 4.1c zeigt auch das Videosignal (s. Abb. 3.17) der RE + SE auf einer ebenen Fläche einen monotonen Anstieg mit a
发表于 2025-3-25 18:55:32 | 显示全部楼层
Auswertemethoden rasterelektronenmikroskopischer Aufnahmen,t. Dann ist auf Grund der großen Schärfentiefe der SEM-Abbildung keine Nachstellung des Linsenstromes erforderlich, so daß für die beiden Teilbilder mit gleichem . und . gerechnet werden kann. . sei ein auf das Objekt bezogenes Koordinatensystem, welches entweder mit der .-Ebene senkrecht zur optisc
发表于 2025-3-25 22:08:53 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-26 02:00:39 | 显示全部楼层
https://doi.org/10.1007/978-3-642-81112-8Elektronenmikroskop; Elektronenmikroskopie; Elektronenoptik; Lichtmikroskop; Rasterelektronenmikroskop; R
发表于 2025-3-26 06:21:42 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-26 11:28:22 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-26 14:52:10 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-26 18:43:05 | 显示全部楼层
 关于派博传思  派博传思旗下网站  友情链接
派博传思介绍 公司地理位置 论文服务流程 影响因子官网 SITEMAP 大讲堂 北京大学 Oxford Uni. Harvard Uni.
发展历史沿革 期刊点评 投稿经验总结 SCIENCEGARD IMPACTFACTOR 派博系数 清华大学 Yale Uni. Stanford Uni.
|Archiver|手机版|小黑屋| 派博传思国际 ( 京公网安备110108008328) GMT+8, 2025-6-22 11:10
Copyright © 2001-2015 派博传思   京公网安备110108008328 版权所有 All rights reserved
快速回复 返回顶部 返回列表