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Titlebook: IT-Forensik; Ein Grundkurs Antje Raab-Düsterhöft Textbook 2024 Der/die Herausgeber bzw. der/die Autor(en), exklusiv lizenziert an Springer-

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发表于 2025-3-21 18:52:30 | 显示全部楼层 |阅读模式
书目名称IT-Forensik
副标题Ein Grundkurs
编辑Antje Raab-Düsterhöft
视频video
概述Umfassende Einführung in die IT-Forensik.Für Studierende und IT-Fachleute.Mit Aufgaben, Lösungen und Dozentenfolien
图书封面Titlebook: IT-Forensik; Ein Grundkurs Antje Raab-Düsterhöft Textbook 2024 Der/die Herausgeber bzw. der/die Autor(en), exklusiv lizenziert an Springer-
描述.Die IT-Forensik hat zum Ziel, Cybercrime-Vorfälle wie z.B. Hacker-Angriffe, Phishing-Attacken oder einen Daten-Diebstahl aufzuklären. Dazu werden digitale Spuren, die Täter in IT-Systemen hinterlassen haben, erfasst und ausgewertet. IT-Forensik hilft, die Schwachstellen von IT-Systemen zu erkennen und die Sicherheit der IT-Systeme zu erhöhen..
出版日期Textbook 2024
关键词IT-Forensik; Digitale-Forensik; IT-Sicherheit; Cyber-Sicherheit; Hacker; Hacker-Angriff
版次1
doihttps://doi.org/10.1007/978-3-662-69090-1
isbn_softcover978-3-662-69089-5
isbn_ebook978-3-662-69090-1
copyrightDer/die Herausgeber bzw. der/die Autor(en), exklusiv lizenziert an Springer-Verlag GmbH, DE, ein Tei
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发表于 2025-3-21 22:39:23 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-22 04:18:25 | 显示全部楼层
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发表于 2025-3-22 11:25:36 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-22 16:48:49 | 显示全部楼层
Antje Raab-Düsterhöft, and low and high current specifications. Functional tests determine whether the internal digital logic and analog sub-systems in the chip behave as intended. The major cost in testing is digital and analog functional tests.Parametric test is a tiny part of the cost,because it is very short,and tes
发表于 2025-3-22 18:56:02 | 显示全部楼层
Antje Raab-Düsterhöft, and low and high current specifications. Functional tests determine whether the internal digital logic and analog sub-systems in the chip behave as intended. The major cost in testing is digital and analog functional tests.Parametric test is a tiny part of the cost,because it is very short,and tes
发表于 2025-3-22 23:49:30 | 显示全部楼层
Antje Raab-Düsterhöft, and low and high current specifications. Functional tests determine whether the internal digital logic and analog sub-systems in the chip behave as intended. The major cost in testing is digital and analog functional tests.Parametric test is a tiny part of the cost,because it is very short,and tes
发表于 2025-3-23 02:01:11 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-23 09:09:09 | 显示全部楼层
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