Titlebook: Handbuch Festkörperanalyse mit Elektronen, Ionen und Röntgenstrahlen; Otto Brümmer,Johannes Heydenreich,Helmut Günther S Book 1979 VEB Deu

迫击炮

割让

同谋

时代错误

Insufficient

Elektronenstrahl-Mikroanalyse,ission entsteht einerseits durch das Abbremsen der Teilchen im Coulomb-Feld der Atome, wobei eine elementunspezifische kontinuierliche Strahlung, die Röntgenbremsstrahlung, auftritt. Die unelastische Wechselwirkung energiereicher Teilchen mit den Atomen führt andererseits zur Ionisation kernnaher El

parasite

,Hochauflösende Röntgenspektroskopie, der Röntgenmikro- und -fluoreszenzanalyse. Diese Methoden gestatten den qualitativen und quantitativen Elementnachweis aus der Lage und Intensität von primär oder sekundär angeregten Röntgenspektren des untersuchten Festkörpers. Die Spektren werden dabei als charakteristisch für die erzeugenden Ato

scrutiny

,Festkörperanalyse mittels ioneninduzierter Röntgenstrahlung,ristischer Röntgenstrahlung der Substratatome. Dieser Prozeß der ioneninduzierten Röntgenemission, der bereits 1912 von CHADWICK [1] entdeckt wurde, wird in wachsendem Maße für die Festkörperanalyse genutzt.

过度

Beugung schneller Elektronen (HEED),, deren Lage und Stärke charakteristisch für die Anordnung der Atome im Kristallgitter bzw. in den Molekülen ist. Diese als Elektronenbeugung oder Elektroneninterferenz bezeichnete Erscheinung beruht auf dem Wellencharakter der Elektronen. Die an den einzelnen Atomen entstehenden Streuwellen überlag

向外供接触

Durchstrahlungs-Elektronenmikroskopie,arationstechnik, durchstrahlbare Objektfolien aus dem massiven Untersuchungsmaterial zu gewinnen, z. B. durch Einsatz chemischer bzw. elektrochemischer Abdünnverfahren oder durch gezielte Anwendung der Ultradünnschnitt-Technik. Untersuchungsmöglichkeiten für Objektfolien mit einer Dicke bis zu einig

渐变

,Oberflächen-Elektronenmikroskopie,technik möglich ist, werden in zunehmendem Maße elektronenoptische Verfahren zur Direktabbildung von Oberflächen eingesetzt. Als wichtigste Verfahren sind in diesem Zusammenhang die Oberflächen-Rasterelektronenmikroskopie, die Emissionsmikroskopie und die Spiegel-Elektronenmikroskopie zu nenen. Die