找回密码
 To register

QQ登录

只需一步,快速开始

扫一扫,访问微社区

Titlebook: GI — 18. Jahrestagung II; Vernetzte und komple Rüdiger Valk Conference proceedings 1988 Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1988 Augmented Re

[复制链接]
楼主: 相反
发表于 2025-3-27 00:41:13 | 显示全部楼层
978-3-540-50360-6Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1988
发表于 2025-3-27 02:10:50 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-27 06:07:09 | 显示全部楼层
0343-3005 Overview: 978-3-540-50360-6978-3-642-74135-7Series ISSN 0343-3005
发表于 2025-3-27 11:28:50 | 显示全部楼层
https://doi.org/10.1007/978-3-662-31522-4 semiconductor processing technology, on the other hand computer aided design. Whereas the first is a problem for physics and chemistry, the progress in the second field results from large activities in electrical engineering and computer science. Although a large body of knowledge about solutions t
发表于 2025-3-27 16:18:17 | 显示全部楼层
https://doi.org/10.1007/978-3-662-31521-7forderlichen kurzen Reaktionszeiten zu erreichen. Wichtige Schwerpunkte unserer Arbeit sind in diesem Zusammenhang die Entwicklung einer geeigneten Architektur für die Realisierung der Algorithmen und die Integration der entwickelten Schaltungen als Coprozessor in ein bestehendes Rechnersystem. In d
发表于 2025-3-27 19:14:07 | 显示全部楼层
https://doi.org/10.1007/978-3-662-31520-0n, das in Wafer Scale Technik gefertigt wird. Ein Knotenprozessor enthält sechs ein-Bit Register, eine ein-Bit ALU und 128 Bits RAM. Zur Erzielung von Defekttoleranz wird eine zweistufige Hierarchie mit unterschiedlichen Rekonfigurierungskonzepten verwendet. Anwendungen eines solchen SIMD-Arrays erg
发表于 2025-3-28 00:04:50 | 显示全部楼层
https://doi.org/10.1007/978-3-662-42314-1stiger Teststrategien, die auf spezielle Problemstellungen abgestimmt werden. Im Rahmen dieses Beitrages wird aufgezeigt, wie durch den Einsatz eines unvollständigen Prüfpfades die Testmusterbestimmung nicht für ein beliebiges synchrones Schaltwerk durchzuführen ist, sondern auf den einfacheren Test
发表于 2025-3-28 05:11:34 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-28 08:17:18 | 显示全部楼层
https://doi.org/10.1007/978-3-663-05138-1nen Konflikte auftreten, die mit Hilfe von Backtracking-Verfahren aufgelöst werden. Wir präsentieren hier eine Methode, die es erlaubt, globale Schaltungseigenschaften bei der Testmustergenerierung auszunutzen. Am Beispiel des FAN-Algorithmus wird demonstriert, wie diese Methode einen hierarchischen
发表于 2025-3-28 13:12:09 | 显示全部楼层
 关于派博传思  派博传思旗下网站  友情链接
派博传思介绍 公司地理位置 论文服务流程 影响因子官网 SITEMAP 大讲堂 北京大学 Oxford Uni. Harvard Uni.
发展历史沿革 期刊点评 投稿经验总结 SCIENCEGARD IMPACTFACTOR 派博系数 清华大学 Yale Uni. Stanford Uni.
|Archiver|手机版|小黑屋| 派博传思国际 ( 京公网安备110108008328) GMT+8, 2025-5-26 09:04
Copyright © 2001-2015 派博传思   京公网安备110108008328 版权所有 All rights reserved
快速回复 返回顶部 返回列表