Titlebook: Epitaxy of Semiconductors; Introduction to Phys Udo W. Pohl Textbook 20131st edition Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2013 Crystal Structu

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Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2013

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Problemaufriss der Technikethik, on perfect, polytype, and mixed bulk crystals we focus on elastic properties of pseudomorphic strained-layer structures. Then the concept of critical layer thickness is introduced, and dislocations relieving the strain in epitaxial layers are presented. X-ray diffraction—the standard tool for struc

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