SCIE期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY 2024/2025影响因子:1.672 (MICROELECTRON RELIAB) (0026-2714). (NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOG

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Submitted on: 11 February 2012. Revised on: 18 February 2012. Accepted on: 05 March 2012. MICROELECTRONICS RELIABILITY

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Submitted on: 28 April 2018. Revised on: 24 May 2018. Accepted on: 16 June 2018. MICROELECTRONICS RELIABILITY

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Submitted on: 10 November 2018. Revised on: 28 November 2018. Accepted on: 14 December 2018. MICROELECTRONICS RELIABILITY

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