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SCIE期刊IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing 2024/2025影响因子:4.734 (IEEE J-STARS

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发表于 2025-3-21 19:22:35 | 显示全部楼层 |阅读模式
期刊全称IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing
期刊简称IEEE J-STARS
影响因子20244.734
视频videohttp://file.papertrans.cn/12/11818/11818.mp4
ISSN1939-1404
eISSN2151-1535
出版商IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
发行地址445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141
学科分类1.Science Citation Index Expanded (SCIE)--Engineering, Electrical & Electronic | Geography, Physical | Remote Sensing | Imaging Science & Photographic Technology; 2.Current Contents Physical, Chemical & Earth Sciences--Earth Sciences; 3.Essential Science Indicators--Geosciences;
出版语言English
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SCIE(SCI)期刊IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing(20 21 REV HIST)影响因子


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Submitted on: 04 March 2016. Revised on: 08 April 2016. Accepted on: 27 April 2016. ___________________IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing
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Submitted on: 28 August 2024. Revised on: 16 December 2024. Accepted on: 29 December 2024. ___________________IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing
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发表于 2025-3-23 04:32:56 | 显示全部楼层
Submitted on: 11 December 2023. Revised on: 21 February 2024. Accepted on: 04 March 2024. ___________________IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing
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