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Titlebook: Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Elec; Verhandlungen Band I W. Bargmann,G. M

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发表于 2025-3-21 17:25:07 | 显示全部楼层 |阅读模式
书目名称Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Elec
副标题Verhandlungen Band I
编辑W. Bargmann,G. Möllenstedt,C. Wolpers
视频videohttp://file.papertrans.cn/984/983004/983004.mp4
图书封面Titlebook: Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Elec; Verhandlungen Band I W. Bargmann,G. M
描述Die vorliegenden Verhandlungen des IV. Internationalen Kongresses für Elektronenmikro· skopie, der unter den Auspizien der International Federation 0/ Electron Microscope Societies im Jahre 1958 in Berlin stattfand, veranschaulichen, in welchem Ausmaß die Elektronenmikroskopie in den letzten Jahren für viele Bereiche der Forschung an Bedeutung gewonnen hat. Etwa 400 Vorträge und einige Diskussionsbemerkungen, vor mehr als 1000 Teilnehmern aus 26 Ländern gehalten, waren zu veröffentlichen, wenn wir der Tradition der früheren Internationalen Kongresse in Delft (1949), in Paris (1950) und in London (1954) treu bleiben wollten. Zum ersten Male war es nicht möglich, alle auf einem Internationalen Kongreß für Elektronenmikroskopie gehaltenen Vorträge in einem einzigen Band zusammenzufassen. Der 1. Band dieser Verhandlungen enthält sowohl die Arbeiten zur Theorie der Elektronenmikroskopie und über die physikalische sowie technische Weiterentwicklung der Geräte, als auch Mitteilungen über die Anwendung des Elek· tronenmikroskops zur Erforschung kristallographischer und technologischer Probleme ein· schließlich der Präparationstechnik. Der 11. Band bringt die Arbeiten über die Anwendung des
出版日期Book 1960
关键词Atom; Beugung; Elektron; Elektronen; Elektronenmikroskopie; Felder; Kristallographie; Kristallstruktur; Mikr
版次1
doihttps://doi.org/10.1007/978-3-642-49765-0
isbn_softcover978-3-642-49481-9
isbn_ebook978-3-642-49765-0
copyrightSpringer-Verlag Berlin Heidelberg 1960
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书目名称Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Elec影响因子(影响力)




书目名称Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Elec影响因子(影响力)学科排名




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书目名称Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Elec年度引用




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书目名称Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Elec读者反馈




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发表于 2025-3-22 03:28:19 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-22 07:21:18 | 显示全部楼层
https://doi.org/10.1007/978-3-642-49765-0Atom; Beugung; Elektron; Elektronen; Elektronenmikroskopie; Felder; Kristallographie; Kristallstruktur; Mikr
发表于 2025-3-22 10:10:08 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-22 16:47:36 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-22 17:50:05 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-23 01:18:18 | 显示全部楼层
Elektronen- und Röntgen-Rastermikroskopie) have been described in the literature. In 1956, an experimental X-ray micro-analyzer (.) was constructed at the A. E. I. Research Laboratory for research into micro — analysis ; this instrument has also been used in problems of metallurgy and surface physics (.) in conjunction with electron diffraction and electron microscopy.
发表于 2025-3-23 01:33:12 | 显示全部楼层
Y. Sakaki,S. Maruse,M. Drechsler,V. E. Cosslett,W. C. Nixon,J. K. Trolan,W. P. Dyke,M. I. Elinson,R.
发表于 2025-3-23 07:28:13 | 显示全部楼层
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