Titlebook: Semiconductor Device Reliability; A. Christou,B. A. Unger Book 1990 Kluwer Academic Publishers 1990 ASIC.CMOS.LED.Laser.Standard.Transisto

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Reliability Assessment of Cmos Asic DesignsMOS ASICs to be established. The programme results are then used to simulate the effects of CMOS failures at the circuit-level and evaluate test patterns. The final step uses this knowledge to provide guidelines for test pattern generation and fault coverage comparisons.

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James Turner,Rodney Conlonum Oktober 1892 charakterisirt sich durch in raschen Sprüngen wechselnde Temperaturextreme und grosse Trockenheit, in Folge deren die Blüten vielfach erfroren, oder die schon gebildeten Fruchtansätze vertrockneten. War der Spät­herbst 1891 auch ungewöhnlich schön und der Winter trotz Wechsels zwisch

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M. Gueguen,J. L. Boussois,J. L. Goudard,D. Sauvageum Oktober 1892 charakterisirt sich durch in raschen Sprüngen wechselnde Temperaturextreme und grosse Trockenheit, in Folge deren die Blüten vielfach erfroren, oder die schon gebildeten Fruchtansätze vertrockneten. War der Spät­herbst 1891 auch ungewöhnlich schön und der Winter trotz Wechsels zwisch

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Finn Jensenum Oktober 1892 charakterisirt sich durch in raschen Sprüngen wechselnde Temperaturextreme und grosse Trockenheit, in Folge deren die Blüten vielfach erfroren, oder die schon gebildeten Fruchtansätze vertrockneten. War der Spät­herbst 1891 auch ungewöhnlich schön und der Winter trotz Wechsels zwisch

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978-94-010-7620-3Kluwer Academic Publishers 1990