Titlebook: Sekundärionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen; Der Einfluß ionenbes Dieter Lipinsky Book 1995 Spr

图画文字

http://image.papertrans.cn/s/image/863965.jpg

Loathe

https://doi.org/10.1007/978-3-663-14558-5Gleichgewicht; Massenspektrometrie; Neutralteilchen; Oxide; Profil; Reibung; Spektrometrie; Systeme; Teilche

不怕任性

978-3-8244-2066-7Springer Fachmedien Wiesbaden 1995

Decline

chapel

Lasting

,Messungen an Oxiden im Zerstäubungsgleichgewicht,Als Referenzproben für die in Kap. 6 vorgestellten oxidischen Mehrfachschichtsysteme wurden, wie in Kap. 4 erläutert, kompakte Oxide untersucht und die SNMS- und SIMS-Signalausbeuten aller relevanten Massenlinien bestimmt. Für das wichtigste Referenzmaterial, .., werden die Ergebnisse im folgenden im Detail beschrieben.

ALERT

confide

Zusammenfassung und Ausblick,Im Rahmen dieser Arbeit wurden der Einsatz einer hinsichtlich der Anforderungen in der Tiefenprofilanalytik isolierender Mehrfachschichtsysteme optimierten SIMS/SNMS-Apparatur und die erzielten Ergebnisse bei der Untersuchung kompakter Oxide und oxidischer Mehrfachschichtsysteme für optische Zwecke vorgestellt.

EXTOL

图画文字

,Probensysteme und Meßablauf,lreflexions-Beschichtungen, als Bandgaß- oder Interferenz-Filter eingesetzt. In allen Anwendungen werden dabei die bei der Überlagerung verschiedener Lichtwellen auftretenden Interferenzerscheinungen ausgenutzt.