Titlebook: Entwurf und Technologie hochintegrierter Schaltungen; Hans-Ulrich Post Book 1989 B. G. Teubner Stuttgart 1989 Algorithmen.Automatisierung.

Conclave

https://doi.org/10.1007/978-3-658-00126-1Kostenfaktor einer integrierten Schaltung wird, muß schon beim Schaltungsentwurf die spätere Testbarkeit einbezogen werden. Zur Verbesserung der Testbarkeit sind verschiedene Verfahren [Micz86] [McCI86] entwickelt worden, von denen die wichtigsten vorgestellt werden.

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Overview: 978-3-519-02267-1978-3-322-84815-4

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,Schaltzeiten, Verlustleistung und Störabstände,n Schaltungssimulationsprogrammen sinnvoll. Für grobe Abschätzungen mit Abweichungen von 10 % bis 20 % genügen jedoch relativ einfache Ansätze. Besondere Modellverfeinerungen für die Stromgleichungen, wie z. B. Substrateffekt oder Kanallängenmodulation, können häufig vernachlässigt werden.

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Fertigungsgerechter Entwurf,lle nicht gibt bzw. genaue Modelle zu komplex und damit zu rechenintensiv sind. Zur Anpassung der Modellparameter an einen Prozeß werden deshalb auf den Wafern Testschaltungen eingesteppt, an denen sich transistor- und prozeßspezifische Parameter messen lassen. Außerdem werden zur Überwachung der Fe

contrast-medium

,Testverfahren für integrierte Schaltungen,Kostenfaktor einer integrierten Schaltung wird, muß schon beim Schaltungsentwurf die spätere Testbarkeit einbezogen werden. Zur Verbesserung der Testbarkeit sind verschiedene Verfahren [Micz86] [McCI86] entwickelt worden, von denen die wichtigsten vorgestellt werden.

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Bemerkungen zur Input-Output-Analysen zu entwerfen. Nach diesem Schema werden alle Subsysteme entwickelt, die dann in Verbindung mit den Chip-Anschlüssen, der Spannungsversorgung, den Kontrolleitungen und dem zentralen Takt zu einem Gesamtsystem verknüpft werden.