SCIE期刊Surface Topography-Metrology and Properties 2024/2025影响因子:2.177 (SURF TOPOGR-METROL) (2051-672X). (INSTRUMENTS &

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Submitted on: 31 October 2002. Revised on: 02 December 2002. Accepted on: 25 December 2002. Surface Topography-Metrology and Properties

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Submitted on: 18 April 2002. Revised on: 11 May 2002. Accepted on: 01 June 2002. Surface Topography-Metrology and Properties

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Submitted on: 26 August 2007. Revised on: 22 September 2007. Accepted on: 12 October 2007. Surface Topography-Metrology and Properties

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