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SCIE期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY 2024/2025影响因子:1.672 (MICROELECTRON RELIAB) (0026-2714). (PHYSICS, APPLIED)(应用物理学)Sci

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查看: 53951|回复: 35
发表于 2025-3-21 17:11:09 | 显示全部楼层 |阅读模式
期刊全称MICROELECTRONICS RELIABILITY
期刊简称MICROELECTRON RELIAB
影响因子20241.672
视频videohttp://file.papertrans.cn/22/21933/21933.mp4
ISSN0026-2714
eISSN1872-941X
出版商PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
发行地址THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB
学科分类1.Science Citation Index Expanded (SCIE)--Engineering, Electrical & Electronic | Nanoscience & Nanotechnology | Physics, Applied; 2.Current Contents Electronics & Telecommunications Collection--Electronics & Electrical Engineering; 3.Current Contents Engineering, Computing & Technology--Electrical & Electronics Engineering; 4.Essential Science Indicators--Engineering;
出版语言English
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发表于 2025-3-21 22:48:20 | 显示全部楼层
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发表于 2025-3-22 03:59:44 | 显示全部楼层
Submitted on: 29 November 2000. Revised on: 13 December 2000. Accepted on: 25 December 2000. MICROELECTRONICS RELIABILITY---PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
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发表于 2025-3-22 05:59:22 | 显示全部楼层
Submitted on: 04 June 2017. Revised on: 10 July 2017. Accepted on: 29 July 2017. MICROELECTRONICS RELIABILITY
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发表于 2025-3-22 09:08:46 | 显示全部楼层
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发表于 2025-3-22 16:15:06 | 显示全部楼层
Submitted on: 22 July 2017. Revised on: 07 August 2017. Accepted on: 12 August 2017. MICROELECTRONICS RELIABILITY---PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
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发表于 2025-3-22 18:08:11 | 显示全部楼层
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发表于 2025-3-22 21:26:40 | 显示全部楼层
Submitted on: 24 July 2020. Revised on: 11 August 2020. Accepted on: 29 August 2020. MICROELECTRONICS RELIABILITY---PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
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发表于 2025-3-23 04:35:41 | 显示全部楼层
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发表于 2025-3-23 07:14:11 | 显示全部楼层
Submitted on: 21 October 2015. Revised on: 02 November 2015. Accepted on: 08 November 2015. MICROELECTRONICS RELIABILITY
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