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SCIE期刊JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING 2024/2025影响因子:1.177 (J ELECTRON IMAGING) (1017-9909). (IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPH

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查看: 36859|回复: 35
发表于 2025-3-21 19:12:44 | 显示全部楼层 |阅读模式
期刊全称JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING
期刊简称J ELECTRON IMAGING
影响因子20241.177
视频video
ISSN1017-9909
eISSN1560-229X
出版商SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
发行地址1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, USA, WA, 98225
学科分类1.Science Citation Index Expanded (SCIE)--Engineering, Electrical & Electronic | Optics | Imaging Science & Photographic Technology; 2.Current Contents Electronics & Telecommunications Collection--Optics & Laser Research & Technology; 3.Current Contents Engineering, Computing & Technology--Optics & Acoustics; 4.Essential Science Indicators--Engineering;
出版语言English
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SCIE(SCI)期刊JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING(20 21 REV HIST)影响因子


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发表于 2025-3-22 00:09:56 | 显示全部楼层
Instrumental
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发表于 2025-3-22 01:09:36 | 显示全部楼层
Submitted on: 11 August 1998. Revised on: 04 September 1998. Accepted on: 27 September 1998. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
linear
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发表于 2025-3-22 05:04:16 | 显示全部楼层
Agility
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发表于 2025-3-22 11:49:38 | 显示全部楼层
不能和解
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发表于 2025-3-22 16:35:47 | 显示全部楼层
勋章
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发表于 2025-3-22 18:39:59 | 显示全部楼层
Submitted on: 27 March 2005. Revised on: 25 May 2005. Accepted on: 09 July 2005. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
IOTA
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发表于 2025-3-22 23:16:33 | 显示全部楼层
irritation
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发表于 2025-3-23 01:40:57 | 显示全部楼层
Submitted on: 10 June 2000. Revised on: 04 August 2000. Accepted on: 06 September 2000. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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发表于 2025-3-23 08:23:37 | 显示全部楼层
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