Titlebook: Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse; Günther Bünau,Klaus-Dieter Klöppel Book

琐事

,Allgemeines zur Sekundärionisierung,it der Zerstörung der Oberfläche verbundener Vorgang, der sich einer quantitativen theoretischen Behandlung hartnäckig widersetzt. Qualitativ ergibt sich jedoch das folgende Bild (s. Abb. 2):.Primärionen (z.B. Ar.), die mit einer Energie von einigen keV auf die Oberfläche eines Festkörpers auftreffe

ornithology

,Sekundärionenausbeute, von 8 keV und etwa 10. A/cm. verwendet (entsprechend 0.6 Ar.-Ionen sec./nm.). Bezeichnet man die Zahl der pro Primärion emittierten positiven Ionen als Sekundärionenausbeute, so erhält man trotz Gegenwart von Sauerstoff (10. Pa) nur Ausbeuten von 2·10. (für Kupfer), 2·10. (für Silber) und 5·10. (fü

大约冬季

vocation

,Hochauflösung,ärionenmassenspektrum zeigt neben den Hauptbestandteilen Eisen und Chrom die Bestandteile der Oberflächenschichten, und zwar insbesondere die Oxide von Eisen und Chrom, sowie Natrium und eine Reihe von Peaks im Massenbereich zwischen 39 u und 42 u (1 u = 1.66·10. kg; “Atomare Masseneinheit”), die au

Redundant

Fragmentierung organischer Verbindungen,mein erwünscht. Da sich die chemischen Bindungen in einem durch Energiezufuhr aktivierten Molekülion oder in dessen Umlagerungsprodukten umso leichter lösen, je schwächer sie sind, kann man aus dem Auftreten von charakteristischen Fragmentionen-Peaks im Massenspektrum auf die Struktur des Molekülion

ostensible

尖

自制

晚来的提名

Ganglion