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Titlebook: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie; Eine Einführung für Jürgen Thomas,Thomas Gemming Textbook 20131st edition Springer-Verlag

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发表于 2025-3-21 17:30:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
期刊全称Analytische Transmissionselektronenmikroskopie
期刊简称Eine Einführung für
影响因子2023Jürgen Thomas,Thomas Gemming
视频video
发行地址Fokus ist auf eine praktische Herangehensweise anstatt nur Beschreibungen von den Grundlagen.Zahlreiche Tipps basierend auf mehrjähriger praktischer Erfahrung mit TEM.Erklärt die Prinzipien und Anwend
图书封面Titlebook: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie; Eine Einführung für  Jürgen Thomas,Thomas Gemming Textbook 20131st edition Springer-Verlag
影响因子.Die Autoren des Buches fassen ihre im Zuge vielseitiger Lehrtätigkeit gesammelten Erfahrungen zu häufig gestellten Fragen und Problemen von Anfängern im Umgang mit dem analytischen Transmissionselektronenmikroskop anschaulich zusammen. Dabei bilden Erklärungen anhand einfacher Modellvorstellungen und Hinweise zur praktischen Umsetzung des Erlernten die Schwerpunkte des Buches. .Dieses praxisnahe Lehrbuch bietet somit eine klare und verständliche Einführung für all jene, die für Ihre Arbeit das Transmissionselektronenmikroskop verwenden wollen, jedoch noch nicht speziell dafür ausgebildet sind..
Pindex Textbook 20131st edition
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书目名称Analytische Transmissionselektronenmikroskopie影响因子(影响力)




书目名称Analytische Transmissionselektronenmikroskopie影响因子(影响力)学科排名




书目名称Analytische Transmissionselektronenmikroskopie网络公开度




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书目名称Analytische Transmissionselektronenmikroskopie年度引用




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书目名称Analytische Transmissionselektronenmikroskopie读者反馈




书目名称Analytische Transmissionselektronenmikroskopie读者反馈学科排名




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发表于 2025-3-21 23:08:27 | 显示全部楼层
,Wir erhöhen die Vergrößerung,iegen. Die Atomabstände in den Kristallgittern sind in dieser Größenordnung. Auch die Untersuchung von Korngrenzen und anderen Grenzflächen auf atomarer Skale gehört dazu. Wir wollen aber auch die Effekte bedenken, die bei der hochvergrößerten und hochaufgelösten Abbildung amorpher Materialien auftreten.
发表于 2025-3-22 03:20:09 | 显示全部楼层
Springer-Verlag Wien 2013
发表于 2025-3-22 04:55:29 | 显示全部楼层
Jürgen Thomas,Thomas GemmingFokus ist auf eine praktische Herangehensweise anstatt nur Beschreibungen von den Grundlagen.Zahlreiche Tipps basierend auf mehrjähriger praktischer Erfahrung mit TEM.Erklärt die Prinzipien und Anwend
发表于 2025-3-22 11:41:29 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-22 14:22:55 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-22 18:38:49 | 显示全部楼层
https://doi.org/10.1007/b102300sterelektronenmikroskop. Damit geht es um ein Mikroskop im engeren Sinn, d.h. um ein Gerät, in dem ein Gegenstand, d.h. die zu untersuchende Probe, durchstrahlt und optisch abgebildet wird. Ungeachtet dessen kann in diesem Mikroskop der Elektronenstrahl auch auf die Probe fokussiert und gerastert we
发表于 2025-3-22 21:41:47 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-23 04:15:24 | 显示全部楼层
发表于 2025-3-23 07:43:42 | 显示全部楼层
https://doi.org/10.1007/b102300iner dünnen Probe und dem Beugungsmuster von den gleichen Strukturen umgeschaltet werden kann. Wir wollen deshalb erklären, wieso überhaupt Elektronenbeugungsmuster entstehen und was an den Linsen innerhalb des Elektronenmikroskops geändert werden muss, damit wir die Beugungsmuster auch sehen können
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