Titlebook: Adaptive Bayes’sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung; Ulrich Rendtel,Hans-Joachim Lenz Book 1990 Springer-Verlag Berlin Hei

llibretto

epicondylitis

B. Euteneuer,S. Störkel,M. Loos [n.,c.] an, die auf r 3 Prüfstufen (“normale Prüfung”, “reduzierte Prüfung” und “verschärfte Prüfung”) benutzt werden. Die Regelung der Übergänge zwischen den einzelnen Prüfstufen ist in Abbildung 6.1 dargestellt.

Deceit

Y. G. Yanni,F. B. Dazzo,M. I. Zidanuf eine gemeinsame Qualitätsgeschichte p1,...,p.,..., p. angewendet werden. Hierbei ist zunächst die Länge NZEIT der Qualitätsgeschichte anzugeben und es muß das Modell für die Qualitätsgeschichte (HTYP) festgelegt werden (vgl. Kapitel 7).

偶然

Toxoid-Vaccines

Sazal Patyar,Ajay Prakash,Bikash MedhiEinfache Prüfpläne für die Gut/Schlechtprüfung von Warenlosen werden bei der industriellen Fertigung beim Wareneingang und Warenausgang sowie bei der Zwischenprüfung zwischen verschiedenen Fertigungsstufen eingesetzt.

拔出

精密

SOB

https://doi.org/10.1007/978-3-642-45604-6Wir nehmen an, daß die Prozeßkurve w. bei der Produktion des t. Loses eine Beta-Dichte mit Erwartungswert . und Varianz σ. ist. Die zugehörigen Funktionalparameter seien mit α. und β. (vgl. (2.4) – (2.6)) bezeichnet.

检查

B. Euteneuer,S. Störkel,M. LoosWir nehmen an, daß die Prozeßkurve zu allen Zeitpunkten t ≥ 1 gut durch die Dichte w(p) einer Betaverteilung beschrieben wird.

Microgram