| 书目名称 | Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme | | 副标题 | Fehlerphysik, Ausfal | | 编辑 | Titu-Marius I. Băjenescu | | 视频video | | | 概述 | Von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.Präzise und praxisnahe Zuverlässigkeitsaspekte umfassend dargestellt, ergänzt durch umfangreiche Tabell | | 图书封面 |  | | 描述 | Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.. | | 出版日期 | Book 2020 | | 关键词 | Elektrotechnik; Elektronik; Halbleiter; Mikroprozessor; Zuverlässigkeit; Verpackungstechnologien; Nachrich | | 版次 | 1 | | doi | https://doi.org/10.1007/978-3-658-22178-2 | | isbn_ebook | 978-3-658-22178-2 | | copyright | Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH, ein Teil von Springer Nature 2020 |
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发表于 2025-3-21 20:01:15
