SCI期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY(0026-2714)历年即时影响因子(2015年即时影响因子:0.154)

papertrans · 发表于 2002-5-25 08:34:02


期刊全称	MICROELECTRONICS RELIABILITY
期刊简称	MICROELECTRON RELIAB
影响因子2015	1.433, 2015年6月21日更新, 影响因子官网
Pindex	0.312 (一般偏容易), Pindex官网
ISSN	0026-2714
学科分类	SCI-纳米科学和纳米技术(NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY) SCI-应用物理学(PHYSICS, APPLIED) SCI-电机及电子(ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC)
出版语种	English
出版商	PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
出版社地址	PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD, THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB
投稿周期	传思论坛
PDF文档	SCI期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY(ISSN=0026-2714)历年即时影响因子.pdf

papertrans · 发表于 2002-5-25 09:56:43

SCI期刊MICROELECTRON RELIAB(0026-2714)历年即时影响因子

papertrans · 发表于 2002-5-25 19:39:19

MICROELECTRONICS RELIABILITY
学科分类	期刊评价参数	专业排名
SCI-纳米科学和纳米技术	影响因子	影响因子排名
	索引论文总数	索引论文总数排名
	论文被引频次	论文被引频次排名
	即时影响因子	即时影响因子排名
	五年总效影响因子	五年总效影响因子排名
SCI-应用物理学	影响因子	影响因子排名
	索引论文总数	索引论文总数排名
	论文被引频次	论文被引频次排名
	即时影响因子	即时影响因子排名
	五年总效影响因子	五年总效影响因子排名
SCI-电机及电子	影响因子	影响因子排名
	索引论文总数	索引论文总数排名
	论文被引频次	论文被引频次排名
	即时影响因子	即时影响因子排名
	五年总效影响因子	五年总效影响因子排名

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