| 书目名称 | Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen |
| 编辑 | Hans Wojtkowiak |
| 视频video | http://file.papertrans.cn/904/903339/903339.mp4 |
| 丛书名称 | Leitfäden und Monographien der Informatik |
| 图书封面 |  |
| 描述 | Der Test stellt einen wichtigen Schritt im Entwurfs-und Herstellungsablauf digitaler Schal tungen dar, indem er unter Anwendung bestimmter Eingangssignale die Funktion einer ent worfenen Schaltung an einem hergestellten Exemplar zu verifizieren erlaubt. Diese Aufga bensteIlung gilt gleichermaßen für diskret aufgebaute Logik wie für integrierte Schaltungen. Doch kommt wegen der begrenzten Zahl der externen Anschlüsse bei größeren integrierten Schaltungen fast zwangsläufig die Aufgabe hinzu, Testbarkeitsaspekte beim Entwurf zu berücksichtigen, da andernfalls ein hinreichender Test häufig nicht oder nur mit größeren Schwierigkeiten durchzuführen ist. Das liegt an der "Zugänglichkeit" integrierter Schal tungen, die durch die Anzahl externer Anschlüsse beschränkt ist. Aus diesen und anderen Gründen ist der Test digitaler Schaltungen sinnvollerweise zusammen mit Überlegungen zur Testbarkeit einer Schaltung zu sehen. Traditionell ist der Test digitaler Schaltungen um die logische Entwurfsebene herum ange ordnet, d.h. daß die logische Ebene den Ausgangspunkt für die Testvorbereitung und die Testdurchführung darstellt. Es gibt darüber hinaus heute auch Ansätze, die von hierar chisch h |
| 出版日期 | Textbook 1988 |
| 关键词 | Algebra; Algorithmen; Boolesche Algebra; Boolesche Funktion; Entwurf; Komplexität; Logik; Signatur; Simulati |
| 版次 | 1 |
| doi | https://doi.org/10.1007/978-3-322-96665-0 |
| isbn_softcover | 978-3-519-02263-3 |
| isbn_ebook | 978-3-322-96665-0 |
| copyright | Springer Fachmedien Wiesbaden 1988 |
|Archiver|手机版|小黑屋|
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( 京公网安备110108008328)
GMT+8, 2025-8-15 02:54
发表于 2025-3-21 19:06:09
