Titlebook: Ion Beams in Materials Processing and Analysis; Bernd Schmidt,Klaus Wetzig Book 2013 Springer-Verlag Wien 2013 Ion Beams.Materials process

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书目名称Ion Beams in Materials Processing and Analysis影响因子(影响力)




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书目名称Ion Beams in Materials Processing and Analysis网络公开度




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书目名称Ion Beams in Materials Processing and Analysis被引频次




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书目名称Ion Beams in Materials Processing and Analysis年度引用




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书目名称Ion Beams in Materials Processing and Analysis读者反馈




书目名称Ion Beams in Materials Processing and Analysis读者反馈学科排名

辩论的终结

Bernd Schmidt,Klaus Wetzig Systeme.Übersichtliche tabellarische Zusammenfassungen.AusfDer Informatik wird in der öffentlichen Wahrnehmung seit bald drei Jahrzehnten eine Schlüsselrolle in der technologischen Entwicklung zugeordnet. Themen der aktuellen öffentlichen Diskussion, wie das "Y2K"-Problem oder E-Commerce, beflügeln

Ruptured-Disk

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小臼

Bernd Schmidt,Klaus Wetzig Systeme.Übersichtliche tabellarische Zusammenfassungen.AusfDer Informatik wird in der öffentlichen Wahrnehmung seit bald drei Jahrzehnten eine Schlüsselrolle in der technologischen Entwicklung zugeordnet. Themen der aktuellen öffentlichen Diskussion, wie das "Y2K"-Problem oder E-Commerce, beflügeln

归功于

en der aktuellen öffentlichen Diskussion, wie das "Y2K"-Problem oder E-Commerce, beflügeln einmal mehr diese Position. Das damit verbundene hohe Ansehen der Informatik in der Öffentlichkeit begründet die gesellschaftliche Bereitschaft zu hohen Investitionen in die informationelle Infrastruktur. Dies

Fibroid

Introduction,are important not only for the understanding of ion implantation, ion beam sputtering, ion channeling, ion-induced damage formation, and ion beam mixing, but also for the comprehension of ion beam synthesis, ion-induced phase transformation, and nanopatterning. Therefore, the book addresses both sci

使声音降低

啪心儿跳动

前奏曲

Materials Processing,last 40 years, ion implantation became the key technology especially in semiconductor technology for the production of ultra-large-scale integrated (ULSI) circuits, for example, silicon processors and memory devices. The type and value of semiconductor conductivity can be selected by the type and am

ethnology

Materials Analysis by Ion Beams,scale from nm up to μm. Ion beam-based analytical techniques concern with ion sources, ion beams, the kind and cross section of ion interaction with matter, the emerging radiation (e.g., sputtered secondary ions, scattered ions, ion-induced photon, and electron emission), and appropriate radiation d