Ondines-curse
发表于 2025-3-27 00:41:13
978-3-540-50360-6Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1988
hereditary
发表于 2025-3-27 02:10:50
http://reply.papertrans.cn/39/3801/380092/380092_32.png
CREEK
发表于 2025-3-27 06:07:09
0343-3005 Overview: 978-3-540-50360-6978-3-642-74135-7Series ISSN 0343-3005
MINT
发表于 2025-3-27 11:28:50
https://doi.org/10.1007/978-3-662-31522-4 semiconductor processing technology, on the other hand computer aided design. Whereas the first is a problem for physics and chemistry, the progress in the second field results from large activities in electrical engineering and computer science. Although a large body of knowledge about solutions t
我的巨大
发表于 2025-3-27 16:18:17
https://doi.org/10.1007/978-3-662-31521-7forderlichen kurzen Reaktionszeiten zu erreichen. Wichtige Schwerpunkte unserer Arbeit sind in diesem Zusammenhang die Entwicklung einer geeigneten Architektur für die Realisierung der Algorithmen und die Integration der entwickelten Schaltungen als Coprozessor in ein bestehendes Rechnersystem. In d
Tailor
发表于 2025-3-27 19:14:07
https://doi.org/10.1007/978-3-662-31520-0n, das in Wafer Scale Technik gefertigt wird. Ein Knotenprozessor enthält sechs ein-Bit Register, eine ein-Bit ALU und 128 Bits RAM. Zur Erzielung von Defekttoleranz wird eine zweistufige Hierarchie mit unterschiedlichen Rekonfigurierungskonzepten verwendet. Anwendungen eines solchen SIMD-Arrays erg
tic-douloureux
发表于 2025-3-28 00:04:50
https://doi.org/10.1007/978-3-662-42314-1stiger Teststrategien, die auf spezielle Problemstellungen abgestimmt werden. Im Rahmen dieses Beitrages wird aufgezeigt, wie durch den Einsatz eines unvollständigen Prüfpfades die Testmusterbestimmung nicht für ein beliebiges synchrones Schaltwerk durchzuführen ist, sondern auf den einfacheren Test
inspiration
发表于 2025-3-28 05:11:34
http://reply.papertrans.cn/39/3801/380092/380092_38.png
Cultivate
发表于 2025-3-28 08:17:18
https://doi.org/10.1007/978-3-663-05138-1nen Konflikte auftreten, die mit Hilfe von Backtracking-Verfahren aufgelöst werden. Wir präsentieren hier eine Methode, die es erlaubt, globale Schaltungseigenschaften bei der Testmustergenerierung auszunutzen. Am Beispiel des FAN-Algorithmus wird demonstriert, wie diese Methode einen hierarchischen
GET
发表于 2025-3-28 13:12:09
http://reply.papertrans.cn/39/3801/380092/380092_40.png