Genistein 发表于 2025-3-25 04:24:07
Synthese selbsttestbarer Schaltungen, der Schaltung durch Ergänzungen und Modifikationen geschehen. Günstiger ist es aber, bereits beim Entwurf die Anforderungen des Tests zu berücksichtigen (“synthesis for testability”). Dies erlaubt eine globalere Optimierung. Die Testbarkeit hängt nämlich mit der Schaltungsstruktur zusammen, und da无目标 发表于 2025-3-25 08:25:19
,Schluß,sgelieferten Chips fehlerhaft sein durften , wird in den 90er Jahren ein Wert von einzelnen ppm angestrebt. Da der direkte Weg über einen vollständig defektfreien Fertigungsprozeß mit der verwendeten Halbleitertechnologie nicht gangbar ist, bleibt nur der indirekte Weg, um die hohen QualitätJAUNT 发表于 2025-3-25 11:39:22
1615-4584 ei ist. Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltudepreciate 发表于 2025-3-25 17:40:11
http://reply.papertrans.cn/32/3124/312377/312377_24.png牵索 发表于 2025-3-25 23:27:21
Synthese selbsttestbarer Schaltungen,haften gewählt werden. Bei der High-Level-Synthese und bei der Logiksynthese kommt dann zu den Optimierungszielen Fläche und Zeit die Testbarkeit hinzu. Außerdem sind bei Fläche und Zeit auch die Selbsttesteinrichtungen einzubeziehen.cochlea 发表于 2025-3-26 01:47:40
http://reply.papertrans.cn/32/3124/312377/312377_26.png非实体 发表于 2025-3-26 08:02:42
http://reply.papertrans.cn/32/3124/312377/312377_27.pngLatency 发表于 2025-3-26 10:22:35
http://reply.papertrans.cn/32/3124/312377/312377_28.png残暴 发表于 2025-3-26 13:38:42
Defekte und Fehler,etzliste und im Verhalten der Schaltung werden als . bezeichnet. Jedem Fehler liegt mindestens ein Defekt zugrunde. Aber nicht jeder Defekt verursacht einen Fehler, denn Defekte in Bereichen, wo keine Layoutobjekte der Schaltung liegen, sind bedeutungslos.技术 发表于 2025-3-26 19:32:15
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