MAIZE
发表于 2025-3-23 13:44:44
Pathophysiologie dementieller Erkrankungenr fehlerfreie Produkte ausgeliefert werden. Die unterschiedlichen Schaltungsstrukturen, Fertigungstechnologien, Stückzahlen und Anforderungen an die Produktqualität haben zur Entwicklung einer Vielzahl unterschiedlicher Vorgehensweisen geführt. Zu einer Teststrategie gehören
freight
发表于 2025-3-23 16:35:06
http://reply.papertrans.cn/32/3124/312377/312377_12.png
amnesia
发表于 2025-3-23 18:11:34
https://doi.org/10.1007/978-3-663-09140-0 der Schaltung durch Ergänzungen und Modifikationen geschehen. Günstiger ist es aber, bereits beim Entwurf die Anforderungen des Tests zu berücksichtigen (“synthesis for testability”). Dies erlaubt eine globalere Optimierung. Die Testbarkeit hängt nämlich mit der Schaltungsstruktur zusammen, und da
委托
发表于 2025-3-24 00:01:27
https://doi.org/10.1007/978-3-658-36799-2sgelieferten Chips fehlerhaft sein durften , wird in den 90er Jahren ein Wert von einzelnen ppm angestrebt. Da der direkte Weg über einen vollständig defektfreien Fertigungsprozeß mit der verwendeten Halbleitertechnologie nicht gangbar ist, bleibt nur der indirekte Weg, um die hohen Qualität
圆锥
发表于 2025-3-24 06:06:09
http://reply.papertrans.cn/32/3124/312377/312377_15.png
Carcinogenesis
发表于 2025-3-24 08:23:14
Entwurf selbsttestbarer Schaltungen978-3-322-85164-2Series ISSN 1615-4584
Implicit
发表于 2025-3-24 12:13:57
Einleitung,n 200 MHz und höher betrieben. Die Planungen sehen vor, die minimalen Abmessungen der Strukturen auf der Chipoberfläche von jetzt ungefähr 0,35 μm auf ca. 0,10 μm im Jahr 2007 zu verkleinern. Dadurch werden Geschwindigkeit und Komplexität der Schaltungen auf einem Chip weiter gesteigert.
联想记忆
发表于 2025-3-24 16:07:33
Defekte und Fehler,r Test soll gerade die häufigsten Fehler zuverlässig erfassen. Fehlerhafte Chips entstehen, wenn durch Störungen im Fertigungsprozeß nicht die gewünschten Strukturen auf der Chipoberfläche erzeugt werden. Solche Abweichungen werden . genannt. Die von ihnen verursachten Änderungen in der Transistor-N
Generalize
发表于 2025-3-24 19:53:22
http://reply.papertrans.cn/32/3124/312377/312377_19.png
强有力
发表于 2025-3-25 03:07:17
,Methoden und Hardware-Strukturen für Mustererzeugung und Kompaktierung,em Kompaktierer, die Folgen von Testantworten zu einem einzigen Datenwort verarbeiten. Diese Testhilfsmittel sollen sich mit geringem Hardware-Aufwand implementieren lassen, den Normalbetrieb nicht negativ beeinflussen und im Testbetrieb eine hohe Fehlererfassung ermöglichen.