图画文字
发表于 2025-3-25 06:33:47
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Loathe
发表于 2025-3-25 09:06:29
https://doi.org/10.1007/978-3-663-14558-5Gleichgewicht; Massenspektrometrie; Neutralteilchen; Oxide; Profil; Reibung; Spektrometrie; Systeme; Teilche
不怕任性
发表于 2025-3-25 12:33:03
978-3-8244-2066-7Springer Fachmedien Wiesbaden 1995
Decline
发表于 2025-3-25 15:57:45
http://reply.papertrans.cn/87/8640/863965/863965_24.png
chapel
发表于 2025-3-25 20:37:59
http://reply.papertrans.cn/87/8640/863965/863965_25.png
Lasting
发表于 2025-3-26 03:24:57
,Messungen an Oxiden im Zerstäubungsgleichgewicht,Als Referenzproben für die in Kap. 6 vorgestellten oxidischen Mehrfachschichtsysteme wurden, wie in Kap. 4 erläutert, kompakte Oxide untersucht und die SNMS- und SIMS-Signalausbeuten aller relevanten Massenlinien bestimmt. Für das wichtigste Referenzmaterial, .., werden die Ergebnisse im folgenden im Detail beschrieben.
ALERT
发表于 2025-3-26 07:37:52
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confide
发表于 2025-3-26 09:00:29
Zusammenfassung und Ausblick,Im Rahmen dieser Arbeit wurden der Einsatz einer hinsichtlich der Anforderungen in der Tiefenprofilanalytik isolierender Mehrfachschichtsysteme optimierten SIMS/SNMS-Apparatur und die erzielten Ergebnisse bei der Untersuchung kompakter Oxide und oxidischer Mehrfachschichtsysteme für optische Zwecke vorgestellt.
EXTOL
发表于 2025-3-26 13:03:12
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图画文字
发表于 2025-3-26 18:13:01
,Probensysteme und Meßablauf,lreflexions-Beschichtungen, als Bandgaß- oder Interferenz-Filter eingesetzt. In allen Anwendungen werden dabei die bei der Überlagerung verschiedener Lichtwellen auftretenden Interferenzerscheinungen ausgenutzt.