Pamphlet 发表于 2025-3-25 07:10:12
http://reply.papertrans.cn/83/8214/821330/821330_21.png马笼头 发表于 2025-3-25 11:22:04
http://reply.papertrans.cn/83/8214/821330/821330_22.pngCeliac-Plexus 发表于 2025-3-25 14:27:43
,Abbildung mit Sekundär-, Rückstreuelektronen und Probenströmen,1b) eine matte Oberfläche an, welche mit einer Richtcharakteristik proportional cos . abstrahlt, so wird in Beobachtungsrichtung eine Leuchtdichte proportional sin a beobachtet. Nach Abb. 4.1c zeigt auch das Videosignal (s. Abb. 3.17) der RE + SE auf einer ebenen Fläche einen monotonen Anstieg mit aPON 发表于 2025-3-25 18:55:32
Auswertemethoden rasterelektronenmikroskopischer Aufnahmen,t. Dann ist auf Grund der großen Schärfentiefe der SEM-Abbildung keine Nachstellung des Linsenstromes erforderlich, so daß für die beiden Teilbilder mit gleichem . und . gerechnet werden kann. . sei ein auf das Objekt bezogenes Koordinatensystem, welches entweder mit der .-Ebene senkrecht zur optiscSubjugate 发表于 2025-3-25 22:08:53
http://reply.papertrans.cn/83/8214/821330/821330_25.png伤心 发表于 2025-3-26 02:00:39
https://doi.org/10.1007/978-3-642-81112-8Elektronenmikroskop; Elektronenmikroskopie; Elektronenoptik; Lichtmikroskop; Rasterelektronenmikroskop; R颠簸下上 发表于 2025-3-26 06:21:42
http://reply.papertrans.cn/83/8214/821330/821330_27.pngThyroxine 发表于 2025-3-26 11:28:22
http://reply.papertrans.cn/83/8214/821330/821330_28.pngdithiolethione 发表于 2025-3-26 14:52:10
http://reply.papertrans.cn/83/8214/821330/821330_29.png女歌星 发表于 2025-3-26 18:43:05
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