Pamphlet 发表于 2025-3-25 07:10:12

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马笼头 发表于 2025-3-25 11:22:04

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Celiac-Plexus 发表于 2025-3-25 14:27:43

,Abbildung mit Sekundär-, Rückstreuelektronen und Probenströmen,1b) eine matte Oberfläche an, welche mit einer Richtcharakteristik proportional cos . abstrahlt, so wird in Beobachtungsrichtung eine Leuchtdichte proportional sin a beobachtet. Nach Abb. 4.1c zeigt auch das Videosignal (s. Abb. 3.17) der RE + SE auf einer ebenen Fläche einen monotonen Anstieg mit a

PON 发表于 2025-3-25 18:55:32

Auswertemethoden rasterelektronenmikroskopischer Aufnahmen,t. Dann ist auf Grund der großen Schärfentiefe der SEM-Abbildung keine Nachstellung des Linsenstromes erforderlich, so daß für die beiden Teilbilder mit gleichem . und . gerechnet werden kann. . sei ein auf das Objekt bezogenes Koordinatensystem, welches entweder mit der .-Ebene senkrecht zur optisc

Subjugate 发表于 2025-3-25 22:08:53

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伤心 发表于 2025-3-26 02:00:39

https://doi.org/10.1007/978-3-642-81112-8Elektronenmikroskop; Elektronenmikroskopie; Elektronenoptik; Lichtmikroskop; Rasterelektronenmikroskop; R

颠簸下上 发表于 2025-3-26 06:21:42

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Thyroxine 发表于 2025-3-26 11:28:22

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dithiolethione 发表于 2025-3-26 14:52:10

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女歌星 发表于 2025-3-26 18:43:05

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查看完整版本: Titlebook: Raster-Elektronenmikroskopie; Ludwig Reimer,Gerhard Pfefferkorn Book 1977Latest edition Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1977 Elektronenm