迫击炮
发表于 2025-3-26 23:41:18
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割让
发表于 2025-3-27 01:17:28
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同谋
发表于 2025-3-27 06:12:11
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时代错误
发表于 2025-3-27 09:59:16
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Insufficient
发表于 2025-3-27 14:05:43
Elektronenstrahl-Mikroanalyse,ission entsteht einerseits durch das Abbremsen der Teilchen im Coulomb-Feld der Atome, wobei eine elementunspezifische kontinuierliche Strahlung, die Röntgenbremsstrahlung, auftritt. Die unelastische Wechselwirkung energiereicher Teilchen mit den Atomen führt andererseits zur Ionisation kernnaher El
parasite
发表于 2025-3-27 18:22:39
,Hochauflösende Röntgenspektroskopie, der Röntgenmikro- und -fluoreszenzanalyse. Diese Methoden gestatten den qualitativen und quantitativen Elementnachweis aus der Lage und Intensität von primär oder sekundär angeregten Röntgenspektren des untersuchten Festkörpers. Die Spektren werden dabei als charakteristisch für die erzeugenden Ato
scrutiny
发表于 2025-3-28 01:28:49
,Festkörperanalyse mittels ioneninduzierter Röntgenstrahlung,ristischer Röntgenstrahlung der Substratatome. Dieser Prozeß der ioneninduzierten Röntgenemission, der bereits 1912 von CHADWICK entdeckt wurde, wird in wachsendem Maße für die Festkörperanalyse genutzt.
过度
发表于 2025-3-28 06:10:52
Beugung schneller Elektronen (HEED),, deren Lage und Stärke charakteristisch für die Anordnung der Atome im Kristallgitter bzw. in den Molekülen ist. Diese als Elektronenbeugung oder Elektroneninterferenz bezeichnete Erscheinung beruht auf dem Wellencharakter der Elektronen. Die an den einzelnen Atomen entstehenden Streuwellen überlag
向外供接触
发表于 2025-3-28 07:58:38
Durchstrahlungs-Elektronenmikroskopie,arationstechnik, durchstrahlbare Objektfolien aus dem massiven Untersuchungsmaterial zu gewinnen, z. B. durch Einsatz chemischer bzw. elektrochemischer Abdünnverfahren oder durch gezielte Anwendung der Ultradünnschnitt-Technik. Untersuchungsmöglichkeiten für Objektfolien mit einer Dicke bis zu einig
渐变
发表于 2025-3-28 13:33:36
,Oberflächen-Elektronenmikroskopie,technik möglich ist, werden in zunehmendem Maße elektronenoptische Verfahren zur Direktabbildung von Oberflächen eingesetzt. Als wichtigste Verfahren sind in diesem Zusammenhang die Oberflächen-Rasterelektronenmikroskopie, die Emissionsmikroskopie und die Spiegel-Elektronenmikroskopie zu nenen. Die