conceal
发表于 2025-3-23 11:02:52
,Multisensor – Systems – A Versatile Approach to Surface Metrology,kungsweise einer Substanz nur vage Vermutungen über das Zustandekommen einer selektiven Wirkung. Das Phänomen der selektiven Wirkung oder der selektiven Toxizität kann klinisch oder tierexperimentell zwar mit einiger Zuverlässigkeit ., im kausal-mechanistischen Sinn aber oft nur unvollkommen . werde
吹牛大王
发表于 2025-3-23 16:21:59
Back Matterwodurch wiederum andere Objekte beleuchtet werden. Diese Wechselwirkungen lassen sich durch globale Beleuchtungsmodellen modellieren. Durch das Radiosity-Modell können globale diffuse Reflexionen modelliert werden. Ray-Tracing-Verfahren sind dazu geeignet, globale Spiegelreflexionen zu simulieren. D
PRO
发表于 2025-3-23 21:23:11
http://reply.papertrans.cn/15/1419/141830/141830_13.png
Affluence
发表于 2025-3-24 00:58:08
http://reply.papertrans.cn/15/1419/141830/141830_14.png
制度
发表于 2025-3-24 03:59:59
Mannigfaltigkeiten und Differentialformen,th edn. W. de Gruyter, Berlin, 2004; Pedrotti F, Pedrotti L, Bausch W, Schmidt H, Optik für Ingenieure, Grundlagen, 4th edn. Springer, Berlin, 2007; Hecht E, Optics, 5th edn. Pearson Education Limited, Harlow, 2016.
Psychogenic
发表于 2025-3-24 08:33:28
Michael QuintenOffers advice on the advantages and disadvantages of various optical and non-optical metrology techniques in different situations.Describes best practice and gives genuine real-world examples and case
declamation
发表于 2025-3-24 11:03:41
Springer Series in Measurement Science and Technologyhttp://image.papertrans.cn/a/image/141830.jpg
Synovial-Fluid
发表于 2025-3-24 17:53:29
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Expurgate
发表于 2025-3-24 21:13:42
https://doi.org/10.1007/978-3-7643-8884-3ylus tip measurement as well as atomic force microscopy. Tactile surface profiling is approved since many decades as a reliable dimensional measuring technique. Atomic force microscopy is used in research, development, and quality assurance whenever high-resolution measurements of the surface struct
人造
发表于 2025-3-25 02:22:15
Integration auf Mannigfaltigkeiten, force microscope in the previous chapter. Strong interactions can also occur for long-range electrical and magnetic forces. This Chapter deals with the most common surface metrology methods based on electrical fields -the capacitive surface profiling- as well as magnetic fields -the profiling with