无效 发表于 2025-3-28 16:22:34

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Abnormal 发表于 2025-3-28 22:28:11

Bildaufzeichnungsverfahren. Besonders bezieht sich das auf biologische Objekte. In der Reflexionsmikroskopie ist das Bild bereits bei geringen Vergrößerungen äußerst elektronenarm. In solchen Fällen besteht das Bedürfnis, die Bildintensität zu steigern, um sich die Scharfstellung des Mikroskops zu erleichtern.

珠宝 发表于 2025-3-29 00:34:25

Photographische Emulsionen (und Elektronenwirkung auf Silbersalze)urch Anwendung der Übertragungstheorie auf das Problem der Wiedergabe kleiner Details im Elektronenmikroskop wurde eine Beziehung hergeleitet, die Angaben über diejenige photographische Schicht gestattet, mit der eine optimale Aufzeichnung möglich ist. Die Auswertung dieser Ergebnisse ist der Inhalt

VERT 发表于 2025-3-29 07:08:29

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纺织品 发表于 2025-3-29 08:53:17

Vakuum, Strahlspannung, LinsendurchflutungAufbau der Anlage. In besonderen Fällen, z. B. in der Elektronenmikroskopie, gesellt sich zu diesen Forderungen noch als dritte diejenige der Freiheit von Vibrationen, wie sie von der rotierenden Pumpe übertragen werden können. Hochvakuumanlagen, die diese Forderungen weitgehend erfüllen, sind in de

averse 发表于 2025-3-29 13:38:57

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Malleable 发表于 2025-3-29 18:05:26

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流利圆滑 发表于 2025-3-29 23:31:52

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知识 发表于 2025-3-30 02:35:11

Röntgen-Projektionsmikroskopie the direct projection methods. The total reflection method, in which true focussing of X-rays takes place at polished cylindrical mirrors, has been investigated very thoroughly by . and . (.) and a detailed account of its present state has been given by . and . (.). It has attained a resolving powe

凹室 发表于 2025-3-30 05:57:53

Elektronen- und Röntgen-Rastermikroskopie) have been described in the literature. In 1956, an experimental X-ray micro-analyzer (.) was constructed at the A. E. I. Research Laboratory for research into micro — analysis ; this instrument has also been used in problems of metallurgy and surface physics (.) in conjunction with electron diffra
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查看完整版本: Titlebook: Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Elec; Verhandlungen Band I W. Bargmann,G. M