孵化
发表于 2025-3-21 17:55:51
书目名称Power-Constrained Testing of VLSI Circuits影响因子(影响力)<br> http://figure.impactfactor.cn/if/?ISSN=BK0752726<br><br> <br><br>书目名称Power-Constrained Testing of VLSI Circuits影响因子(影响力)学科排名<br> http://figure.impactfactor.cn/ifr/?ISSN=BK0752726<br><br> <br><br>书目名称Power-Constrained Testing of VLSI Circuits网络公开度<br> http://figure.impactfactor.cn/at/?ISSN=BK0752726<br><br> <br><br>书目名称Power-Constrained Testing of VLSI Circuits网络公开度学科排名<br> http://figure.impactfactor.cn/atr/?ISSN=BK0752726<br><br> <br><br>书目名称Power-Constrained Testing of VLSI Circuits被引频次<br> http://figure.impactfactor.cn/tc/?ISSN=BK0752726<br><br> <br><br>书目名称Power-Constrained Testing of VLSI Circuits被引频次学科排名<br> http://figure.impactfactor.cn/tcr/?ISSN=BK0752726<br><br> <br><br>书目名称Power-Constrained Testing of VLSI Circuits年度引用<br> http://figure.impactfactor.cn/ii/?ISSN=BK0752726<br><br> <br><br>书目名称Power-Constrained Testing of VLSI Circuits年度引用学科排名<br> http://figure.impactfactor.cn/iir/?ISSN=BK0752726<br><br> <br><br>书目名称Power-Constrained Testing of VLSI Circuits读者反馈<br> http://figure.impactfactor.cn/5y/?ISSN=BK0752726<br><br> <br><br>书目名称Power-Constrained Testing of VLSI Circuits读者反馈学科排名<br> http://figure.impactfactor.cn/5yr/?ISSN=BK0752726<br><br> <br><br>
非秘密
发表于 2025-3-21 20:53:36
第152726主题贴--第2楼 (沙发)
铁塔等
发表于 2025-3-22 01:32:22
板凳
多样
发表于 2025-3-22 04:43:48
第4楼
overbearing
发表于 2025-3-22 09:54:49
5楼
独特性
发表于 2025-3-22 14:26:14
6楼
披肩
发表于 2025-3-22 19:14:03
7楼
减弱不好
发表于 2025-3-23 00:19:02
8楼
捏造
发表于 2025-3-23 03:01:05
9楼
不舒服
发表于 2025-3-23 08:49:50
10楼