ODDS
发表于 2025-3-21 18:51:37
书目名称Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse影响因子(影响力)<br> http://impactfactor.cn/if/?ISSN=BK0158802<br><br> <br><br>书目名称Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse影响因子(影响力)学科排名<br> http://impactfactor.cn/ifr/?ISSN=BK0158802<br><br> <br><br>书目名称Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse网络公开度<br> http://impactfactor.cn/at/?ISSN=BK0158802<br><br> <br><br>书目名称Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse网络公开度学科排名<br> http://impactfactor.cn/atr/?ISSN=BK0158802<br><br> <br><br>书目名称Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse被引频次<br> http://impactfactor.cn/tc/?ISSN=BK0158802<br><br> <br><br>书目名称Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse被引频次学科排名<br> http://impactfactor.cn/tcr/?ISSN=BK0158802<br><br> <br><br>书目名称Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse年度引用<br> http://impactfactor.cn/ii/?ISSN=BK0158802<br><br> <br><br>书目名称Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse年度引用学科排名<br> http://impactfactor.cn/iir/?ISSN=BK0158802<br><br> <br><br>书目名称Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse读者反馈<br> http://impactfactor.cn/5y/?ISSN=BK0158802<br><br> <br><br>书目名称Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse读者反馈学科排名<br> http://impactfactor.cn/5yr/?ISSN=BK0158802<br><br> <br><br>
Wernickes-area
发表于 2025-3-21 23:59:54
http://reply.papertrans.cn/16/1589/158802/158802_2.png
油毡
发表于 2025-3-22 03:13:41
Application of STAAD in ESP Structure Designer Ionisierungsbedingungen müssen Sekundärionenmassenspektren innerhalb möglichst kurzer Zeiten aufgenommen werden, was einen schnellen Probenwechsel ermöglicht und die Verschmutzung des Massenspektrometers durch Probenmaterial auf ein Mindestmaß beschränkt. Apparativ ist die Sekundärionisierung kau
FAWN
发表于 2025-3-22 05:10:05
Einleitung,genen elektrischen Feldern an Oberflächen (Feldionisations-, kurz: “FI”- , bzw. Felddesorptions-, kurz: “FD”-Methode ). Sekundäre Ionen entstehen in der Gasphase durch chemische Reaktionen von Primärionen mit neutralen Molekülen (chemische Ionisations-, kurz: “CI”-Methode) oder an Oberfläc
NAG
发表于 2025-3-22 11:39:35
,Allgemeines zur Sekundärionisierung,wenn sich die Massen der Stoßpartner gleichen. Inelastische Stöße führen zu Fehlordnungen im Gitter und zur elektronischen Anregung, Ionisierung und Ablösung (bzw. Zerstäubung, engl. “sputtering”) des Oberflächenmaterials.
纵欲
发表于 2025-3-22 14:57:59
,Schlußbemerkung,er Ionisierungsbedingungen müssen Sekundärionenmassenspektren innerhalb möglichst kurzer Zeiten aufgenommen werden, was einen schnellen Probenwechsel ermöglicht und die Verschmutzung des Massenspektrometers durch Probenmaterial auf ein Mindestmaß beschränkt. Apparativ ist die Sekundärionisierung kau
affluent
发表于 2025-3-22 19:46:07
http://reply.papertrans.cn/16/1589/158802/158802_7.png
喷出
发表于 2025-3-23 00:23:50
Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse978-3-322-87528-0
microscopic
发表于 2025-3-23 02:48:15
http://reply.papertrans.cn/16/1589/158802/158802_9.png
oblique
发表于 2025-3-23 08:44:01
Apparatur, Bauweise und seiner Spezifikationen bezüglich Massenbereich (bis zu 3000 atomaren Masseneinheiten) und Hochauflösung (>25000 für EI-Messungen) für den beabsichtigten Zweck besonders eignet. Der grundsätzliche Aufbau des Massenspektrometers, einschl. des im Rahmen der Arbeit entwickelten Zusatzteils